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der Sekondärelektronendetektordas Endobjektiv des primären Elektronenstrahlsder
Detektor der energiedispersive Röntchen-mikroanalyseDas Erzstück auf seinem Stiftprobenteller (stub) auf der Probenbühne

Das Sekundärelektronenmikroskop (SEM)
mit EDAX-Anlage zur Elementenanalyse
am Institut für Mikrobiologie der TU Braunschweig


 
Ein Überblick 
vom SEM, ein Philips SEM 515, wie es  
im Keller des Biozentrums der  
TU-Braunschweig steht.  

Alle SEM-Bilder dieser Arbeit wurden  
damit aufgenommen. 

Im  Exsikkator, der auf dem Computer der EDAX-Anlage steht, werden die Proben aufbewahrt. 
 

Die  Säule 
mit der Elektronenoptik 
und die darunter liegende Probenkammer 

Direkt hinter der Säule steht der flüßig-N2 Behälter der EDAX-Anlage

Die Probenbühne und    
Ein Einblick in die   
Probenkammer. 

Man sieht das Endobjektiv des primären Elektronenstrahls (oben), den Sekundärelektronendetektor (links) und den Detektor der energiedispersive Röntchen -mikroanalyse (links hintern)

Die Probenbühne 
mit Probe 
(ein geschliffenes Erzstück)
Das Steuerkonsoll 
Der große Monitor gehört zur EDAX-Anlage. 

Die verschiedene Steuerelemente werden 
unten beschrieben

Eine   
Elementenanalyse 
auf dem Bildschirm der EDAX-Anlage 

Die erkannten Elementen sind eingezeichnet. 
Die Buchstabe neben den Elementensymbolen, z.B. K(alpha), bezieht sich auf die spezifische Elektronenschale.

Die Kathode im Wehnelt-Zylinder  
wird erneuert.
 
 
 
Philips SEM 515 
Beschreibung des Herstellers
Colour codes:   Green:    frequently used controls conveniently placed for ease of operation. 
                         Blue:      infrequently used or  preset controls. 
                         Yellow: optional facilities. 
 
1. High resolution recording monitor with automatic photographic procedure. 
2. Large-screen viewing monitor with continuous linearvideo-level indicator. 
3.  Videoscope (optional) continuously monitors the video signal against calibrated reference levels.
4. Automatic vacuum pumping and control. 
5. Electron gun alignment and control. 
6.  Spot size in calibrated steps, plus continuous control for X-ray analysis. 
7. Continuous kV control with digital readout. 
8.  Autofocus and automatic astigmatism control unit. 
9.  Dynamic focussing for tilted surfaces. 
10. Beam shift - kVcompensated. 
11. Manual stigmatorcontrol. 
12. Magnification control with 14 steps and 8 x continuous zoom. Fully corrected digital display of information. 
13. Fully automated display and recording of operating parameters. Additional operator selectable data.
14.  Video channel selector and display in split screen and dual magnification mode. 
15. Tilt correction control. 
16. Continuous scan rotation control. 
17.  Independent line-time and lines/ frame selection. Automatic memory retrieval of parameters selected for viewing and 
photography.TVviewing selected by single push-button. Ultra-slow line-scan facility. 
18. Pushbutton selection of a wide range of scanning modes.
19.  Comprehensive video processing facilities. 
20 Secondary electron detector. Bias control selects relative proportion of secondary and backscattered electrons. 
Precision gain and black level controls. 
21. Unused module positions are prepowered for immediate connection of additional accessories.